応用情報技術者試験 令和6年度 秋期 午前 問24

【正解】ウ

耐タンパ性とは、機器や半導体に対する不正な分解、解析、改変を困難にし、内部の秘密情報や暗号鍵などを守る性質です。チップのパッケージを開封したり、配線を露出させて内部回路を物理的に調べたりした際に、回路が破壊される仕組みは、解析の継続や情報の読出しを阻止します。したがって、物理解析を検知して内部回路を破壊するウが、耐タンパ性の向上策として適切です。

アの説明は誤りです。ESD耐性の強化は、静電気による半導体の故障を防ぐための信頼性・耐久性対策です。不正な解析や情報の窃取を防ぐ耐タンパ対策ではありません。

イの説明は誤りです。検査用パッドを残すと、外部から内部信号やメモリへアクセスする手掛かりとして悪用される可能性があります。製造後は検査機能を無効化したり、パッドを除去したりする方が耐タンパ性を高められます。

エの説明は誤りです。内部メモリを物理アドレス順に整然と配置すると、構造やデータの対応関係を推測しやすくなります。配置や対応関係を複雑化する方が解析を困難にできます。

【ポイント】 耐タンパ対策には、開封や光、電圧、クロック異常の検知、暗号鍵の消去、保護配線による物理解析の妨害などがあります。 ESD対策は故障防止、耐タンパ対策は不正行為からの情報保護という目的の違いを押さえてください。