応用情報技術者試験 令和4年度 春期 午前 問23

【正解】ウ

耐タンパ性とは、機器や半導体に対する不正な分解、解析、改造、秘密情報の読出しなどを困難にする性質です。チップの配線や内部メモリを物理的に調べようとしたときに内部回路が破壊される仕組みを設ければ、攻撃者が暗号鍵や回路構成を取り出すことを妨げられます。したがって、物理的な解析を検知又は阻止して秘密を守るウが適切です。

アのESDへの耐性強化は誤りです。ESD対策は、静電気の放電による素子の故障や誤動作を防ぐ信頼性対策です。不正な解析や改造を防止する耐タンパ対策とは目的が異なります。

イの検査用パッドを残す方法は誤りです。検査用パッドは製造時の試験には便利ですが、製品完成後も利用できる状態では、内部信号の観測や回路へのアクセスに悪用されるおそれがあります。耐タンパ性を高めるには、無効化や除去などが必要です。

エの物理アドレスを整然と配置する方法は誤りです。規則的な配置は内部構造の推測や解析を容易にする可能性があります。耐タンパ対策では、配線やメモリ配置の難読化、暗号化、保護膜、開封検知などが用いられます。

【ポイント】 耐タンパ性は、秘密情報を保存するICカードや暗号処理チップで特に重要です。 試験では、故障を防ぐ信頼性対策と、不正行為を防ぐセキュリティ対策を区別してください。