応用情報技術者試験 令和7年度 春期 午前 問54

【正解】ウ

図の基準値から、テスト密度の下限は20×80％＝16件／KLOCです。欠陥密度の許容範囲は、下限が0.1×80％＝0.08件／KLOC、上限が0.1×120％＝0.12件／KLOCであり、基準の指定により0.08以上0.12未満となります。領域④は、テスト密度が16以上である一方、欠陥密度が0.08未満の範囲です。テストケース数は量的な下限を満たしていますが、検出した欠陥が想定より少なすぎます。単に品質が高い可能性だけでなく、テストの観点や条件に漏れがあり、欠陥を十分に検出できていない可能性もあるため、テストケースの妥当性を確認するウが正解です。

アの説明は誤りです。領域④の欠陥密度は0.08未満なので、欠陥密度の基準を満たしていません。欠陥密度が基準内となるのは領域③です。

イの説明は誤りです。欠陥が多いと評価されるのは、欠陥密度が上限の0.12以上となる領域②です。領域④は反対に欠陥の検出数が少ない領域です。

エの説明は誤りです。領域④のテスト密度は16以上なので、テストケース数の基準を満たしています。テスト密度が不足しているのは領域①です。

【ポイント】 テスト密度はテストの量、欠陥密度は検出された欠陥の量を表します。欠陥密度が低すぎる場合も、品質が高いと即断せず、テスト内容や観点の漏れを確認することが重要です。